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                  日立X射线荧光膜厚测量仪(FT)
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                  X射线荧光镀层厚度测量仪FT9200

                  发布时间:2019-04-10 16:27:50  浏览次数:

                  产品说明

                  品名:X射线荧光镀层厚度测量仪FT9200
                  型号:FT9200系列
                  概要:是利用荧光X射线原理的镀膜厚度测量计。SFT系列是本公司标准机型。有适用小型部件的SFT9200、有适用大型印刷基板的SFT9255。防止样品和仪器装备结构不吻合的功能是本系列的标准装备。
                  特长
                  FT3000系列的后续机型。
                  1.依据照明,可以看到以前观察困难的样品。
                  2.搭载了防止有凹凸的样品碰撞的传感器。
                  3.运用激光聚焦功能简单实现位置的调整。
                  4.微小领域的观察也很容易。搭载了能4阶段切换的可变焦距透镜。(任?。?/span>
                  5.搭载了焦点切换功能,能够对有高度的样品的低部分进行测定。(任?。?/span>
                  规格
                  型号FT9200系列
                  射线源空冷式小型X射线管
                  准直器型0.2x0.05mm、0.05x0.2mm
                  0.1mm,0.2mm、0.3mmφ
                  样品观察CCD照相机
                  过滤器Co:自动切换
                  样品平台移动量:220(X)x150(Y)x150(Z)mm
                  X-rayStation电脑(Windows2000?)17英寸CRT

                   


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